國家智慧財產權局資訊顯示，芯康檢測技術無錫有限公司申請一項名為“一種晶片高效檢測系統及方法”的專利，公開號CN121254044A，申請日期為2025年12月檢測。
專利摘要顯示，本發明涉及晶片檢測領域，公開了一種晶片高效檢測系統及方法，用於實現對晶片長期效能退化檢測檢測。包括在待測晶片工作狀態下，同步採集電源引腳電訊號與晶片表面熱成像資料生成電熱耦合特徵資料集，經阻抗譜分析和熱時間常數計算，提取阻抗及熱傳導特性引數。基於阻抗特性引數分析內部訊號傳輸路徑獲取路徑特徵引數，結合前兩者建立晶片動態電流與工作電壓的數學模型，生成系統辨識結果，最終綜合各類引數生成晶片檢測結果和故障定位資訊。本發明進行系統基準測試、環境干擾監測與補償，實現檢測結果的高精度、高魯棒性。
天眼查資料顯示，芯康檢測技術無錫有限公司，成立於2022年，位於無錫市，是一家以從事專業技術服務業為主的企業檢測。企業註冊資本360萬人民幣。透過天眼查大資料分析，芯康檢測技術無錫有限公司專利資訊5條，此外企業還擁有行政許可6個。
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